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Innovazione
16 Ottobre 2025 - 11:40
Un gruppo di ricercatori del Dipartimento di Automatica e Informatica-DAUIN del Politecnico di Torino ha ricevuto il JETTA/TTTC Best Paper Award 2024 durante la International Test Conference, che si è svolta a San Diego, in California, dal 21 al 26 settembre scorsi. Il riconoscimento è stato assegnato per l'articolo "Investigating and Reducing the Architectural Impact of Transient Faults in Special Function Units for GPUs", pubblicato sulla rivista scientifica "Journal of Electronic Testing: Theory and Application" (JETTA), edita da Springer.
La conferenza ITC riunisce annualmente i professionisti del collaudo e della progettazione di circuiti elettronici per confrontarsi sulle sfide del settore e individuare soluzioni attraverso la collaborazione tra mondo accademico, fornitori di strumenti e ingegneri specializzati. Il premio è stato conferito dal TTTC (Test Technology Technical Community), organizzazione della IEEE Computer Society dedicata al collaudo di circuiti e sistemi elettronici.
LA RICERCA SUI PROCESSORI GRAFICI E LE APPLICAZIONI CRITICHE
Gli autori dell'articolo sono Josie Esteban Rodriguez Condia, Juan-David Guerrero-Balaguera, Robert Alexander Limas Sierra e Matteo Sonza Reorda, rispettivamente ricercatore, assegnista di ricerca, dottorando e docente presso il DAUIN, insieme a Edwar J. Patino Nunez, ricercatore presso la Universidad Pedagogica y Tecnologica de Colombia (UPTC).
Lo studio si concentra sull'affidabilità delle GPU, i processori grafici oggi fondamentali non solo per la grafica computerizzata ma soprattutto per l'intelligenza artificiale e il calcolo ad alte prestazioni. Questi dispositivi sono centrali in applicazioni critiche per la sicurezza come le auto a guida autonoma, dove devono eseguire algoritmi complessi con assoluta affidabilità.
Il problema affrontato riguarda i guasti transitori, malfunzionamenti temporanei che possono verificarsi nei circuiti elettronici e che diventano più probabili con l'aumento della complessità dei chip moderni. Le GPU attuali possono contenere svariati miliardi di transistor, e garantirne il funzionamento corretto in ogni condizione rappresenta una sfida ingegneristica significativa. Questi guasti temporanei, seppur brevi, possono avere conseguenze serie in sistemi dove la sicurezza è prioritaria.
I ricercatori hanno sviluppato una metodologia per valutare l'impatto di questi guasti sulle diverse strutture hardware delle GPU e proporre soluzioni per mitigarli. Il lavoro risponde a un problema ancora parzialmente irrisolto nel settore: nonostante l'uso massiccio delle GPU nell'addestramento delle reti neurali e nel calcolo scientifico, le valutazioni di affidabilità e le contromisure efficaci sono ancora in fase di sviluppo.
La ricerca rappresenta anche un successo della collaborazione internazionale tra il Politecnico di Torino e l'università colombiana UPTC, istituzioni che mantengono da tempo programmi di scambio per docenti e studenti. Il riconoscimento conferma l'importanza di affrontare con approcci innovativi le sfide tecnologiche che emergono dall'evoluzione sempre più rapida dei sistemi di calcolo.
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